需要の高まっている多種多様な半導体製品のウエハテスト、ファイナルテストを行っております。
国内トップクラスの専用クリーンルームなど最適なテスト環境を整え、熟練したエンジニアによるサポートで
量産における効率性を向上させ、お客様へ安心と信頼を提供しています。
24時間体制で、テスタ(1)、プローバー(2)等の装置を利用しお客様の仕様に適しているか電気的に検査しております。
お客様に最適なアロケーションやテスト効率の向上、不良原因の追求など多様なサポートをいたします。
電気信号を流して性能の検査、高温/高電圧などのストレスをかけて出荷前の初期不良品を除去する検査、外観検査
テストに利用するテスタ(1)やプローバー(2)、プローブカード(3)など、設備の修理、点検にはノウハウが要求され、例えばプロ―ブカードのメンテナンスでは、1mmの1/100の針を正規の場所に戻すためにピンセットで直すなど、高度な技術が必要となります。また、高温/高電圧などの検査を行うために、技術的な資格や知識が必要となります。
テスタ(1)とは:
半導体の電気特性を検査するための装置
プローバー(2)とは:
プローブカードを装着し、テスタに接続して使用
プローブカード(3)とは:
ウエハテストにおいて、半導体チップの電気的検査をするために用いられる接続治具(探針)半導体チップのパッド(電極)とテスタとを接続する役割を持ち、パッドに探針(プローブ)を接触させることにより、半導体チップの電気的検査を行い、良否判定をします。半導体チップのパッド位置に合わせてプローブの配置も変わるため、製品毎に専用のプローブカードが必要となります。
オペレーションを支える技術、豊富なデータの蓄積が、
テストに関する様々なソリューションを提供することに
繋がっております。
分類 | メーカー | 型名 | |
---|---|---|---|
テスタ | SoC,MUC | ADVANTEST | T3347A |
T6563 | |||
T6575 | |||
T6577 | |||
T6573 | |||
T6672 | |||
T6673 | |||
T2000LS | |||
T2000EPP | |||
V93000(PS1600) | |||
Teradyne | J750EX | ||
Megnum2 SV | |||
Memory | ADVANTEST | T5335P | |
T5371 | |||
T5377 | |||
T5377S | |||
T5383 | |||
T5722 | |||
T5588 | |||
T5593 | |||
T5830 | |||
T5833 | |||
Analog/Mixed Signal | ADVANTEST | T2000IPS | |
T7721 | |||
EVA100 | |||
Teradyne | μFlex | ||
ETS-800 | |||
ADVANTEST | V93000RF | ||
Shibasoku | WL25 | ||
WL25V | |||
Sensor | Teradyne | IP70EP | |
IP70EMP | |||
IP750EX | |||
ADVANTEST | IP750EX-HD | ||
T2000ISS | |||
トリマ | ESI Group | model 9830 | |
model 9850TP | |||
M550 |
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