テストオペレーション
サービス

需要の高まっている多種多様な半導体製品のウエハテスト、ファイナルテストを行っております。
国内トップクラスの専用クリーンルームなど最適なテスト環境を整え、熟練したエンジニアによるサポートで 量産における効率性を向上させ、お客様へ安心と信頼を提供しています。

サービス内容

  • オペレーション

    24時間体制で、テスタ(1)、プローバー(2)等の装置を利用しお客様の仕様に適しているか電気的に検査しております。
    お客様に最適なアロケーションやテスト効率の向上、不良原因の追求など多様なサポートをいたします。

    主なテスト

    電気信号を流して性能の検査、高温/高電圧などのストレスをかけて出荷前の初期不良品を除去する検査、外観検査

  • オペレーションを支える技術

    テストに利用するテスタ(1)やプローバー(2)、プローブカード(3)など、設備の修理、点検にはノウハウが要求され、例えばプロ―ブカードのメンテナンスでは、1mmの1/100の針を正規の場所に戻すためにピンセットで直すなど、高度な技術が必要となります。また、高温/高電圧などの検査を行うために、技術的な資格や知識が必要となります。

  • テスタ(1)とは:

    半導体の電気特性を検査するための装置

  • プローバー(2)とは:

    プローブカードを装着し、テスタに接続して使用

  • プローブカード(3)とは:

    ウエハテストにおいて、半導体チップの電気的検査をするために用いられる接続治具(探針)半導体チップのパッド(電極)とテスタとを接続する役割を持ち、パッドに探針(プローブ)を接触させることにより、半導体チップの電気的検査を行い、良否判定をします。半導体チップのパッド位置に合わせてプローブの配置も変わるため、製品毎に専用のプローブカードが必要となります。

オペレーションを支える技術、豊富なデータの蓄積が、
テストに関する様々なソリューションを提供することに
繋がっております。

テスタラインナップ

  • ロジック(CPU、SoC)

    • ウエハテストからファイナルテストまで対応
    • 小ピンから多ピン製品まで対応
  • イメージセンサー (CIS、CCD)

    • ハイスピードCIS/CCDに対応
    • MIPIのアライアンスメンバ
    • 専用クリーンルームによるテスト環境
    • 経験豊富なエンジニアリングサポート
  • アナログ /Mixed Signal

    • 最新テスト装置保有によりテストコスト削減
    • 幅広いテスト環境(LSIリニアIC・電源制御IC〜RFLSIまで対応)
  • メモリ (DRAM、Flash)

    • 豊富なメモリテストの実績に基づく技術力
    • 工場内でのプローブカードメンテナンス対応

豊富なテスタラインナップで、多種多様な半導体製品のテストを行っております。

保有設備一覧はこちら 詳しいお問い合わせはこちらまで
分類 メーカー 型名
テスタ SoC,MUC ADVANTEST T3347A
T6563
T6575
T6577
T6573
T6672
T6673
T2000LS
T2000EPP
V93000(PS1600)
Teradyne J750EX
Megnum2 SV
Memory ADVANTEST T5335P
T5371
T5377
T5377S
T5383
T5722
T5588
T5593
T5830
T5833
Analog/Mixed Signal ADVANTEST T2000IPS
T7721
EVA100
Teradyne μFlex
ETS-800
ADVANTEST V93000RF
Shibasoku WL25
WL25V
Sensor Teradyne IP70EP
IP70EMP
IP750EX
ADVANTEST IP750EX-HD
T2000ISS
トリマ ESI Group model 9830
model 9850TP
M550